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天瑞XRF测试仪,天瑞光谱仪器,天瑞仪器XRF,天瑞XRF分析仪 |
面向地区 |
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，关机前可设定声光提示
技术指标高灵敏度探测器（分辨率达149Ev），精密的放大电路，
提高Cd、Pb元素的灵度。
检出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
样品形状：任意大小，任意不规则形状
样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
小样品腔尺寸：300×300×100mm
大样品腔尺寸：样品尺寸不受限制
X射线管：靶材/Mo管电压/5～50kV管电流/1～1000μA
照射直径：2、5、8mm
探测器：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片：八种新型滤光片自动选择
样品定位：微动载物平台（选配）
样品观察：130万分辨率彩色CCD摄像机
微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）软件
定量分析：理论Alpha
引起样品误差的原因：
（1）样品物理状态不同，样品的颗粒度、密度、光洁度不一样；样品的沾污、吸潮，液体样品的受热膨胀，挥发、起泡、结晶及沉淀等。
（2）样品的组分分布不均匀 样品组分的偏析、矿物效应等。
（3）样品的组成不一致 引起吸收、增强效应的差异造成的误差
（4）被测元素化学结合态的改变 样品氧化，引起元素百分组成的改变；轻元素化学价态不同时，谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。
（5）制样操作 在制样过程中的称量造成的误差，稀释比不一致，样品熔融不完全，样品粉碎混合不均匀，用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。
3、样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。
（1）固体块状样品 包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等，其中金属材料占了很大的比例。
（2）粉末样品 包括各种矿产品，水泥及其原材料，金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等；还有岩石土壤等。
（3）液体样品 油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。
